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電磁膜厚計

高周波膜厚計

品番


LE-200C


LH-200C

測定方式

電磁誘導式

高周波渦電流式

測定対象

磁性体上の非磁性被膜

非鉄金属上の絶縁被膜

測定範囲

0〜1500μm

0〜800μm

測定精度

15μm未満:±0.3μm/15μm以上:±2%

50μm未満:±1μm/50μm以上:±3%

分解能

100μm未満:0.1μm/100μm以上:1μm

100μm未満:0.1μm/100μm以上:1μm

プローブ

一点接触定圧式(LEP-20)

一点接触定圧式(LHP-20)

表示方法

デジタル(LCD、最小表示桁0.1μm)

電源

AC100V(50/60Hz)または
単3乾電池 本体部×6 プリンタ部×4

寸法(mm)

W120×D250×H55

重量

約1.0kg

付属品

標準板 (10、50、100、350、1000μm 各一枚)

別売オプション

L字型プローブ(LEP-21)

 

価格

廃番
後継機種はこちら→M70E-200J
廃番
後継機種はこちら→M70H-200J

運賃、および消費税は、記載価格には、含まれていません。

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